高精度と高速の両立を実現 ・高精度測定・・・繰り返し精度(3σ)0.02~0.1μm ・高速測定・・・タクトタイム1点1秒以下 ・充実したユーザ支援機能 ・膜厚測定(オプション) オムロン(株) QLMソリューション事業センタ
● 高精度測定 ● 高速測定 ● 充実したユーザ支援機能
CD測定装置(高速短寸測定装置)
提供:ファクトリー・マート・ジャパン